Ⅰ. 纠偏测量
测量薄膜和卷绕部件的边缘位置等设备(可用于锂电池卷绕机及其他透明薄膜生产设备纠偏）
独立开发透镜可达到4μm的精度和1μm的重复精度，多波段激光+I-DSP图像处理模式：图像更加清晰，同时可降低干扰项，实现了高速执行数据处理。
Ⅱ. 直径/内外径检测等
多种应用模式
※边缘控制模式
※外径检测模式
※内径/间隙检测模式
※透明目标的边缘检测
最 高水平的检测周期（280μs)
高性能Cortex-M7核心超高速处理器结合独特演算方法，可高速处理大量信息。
